一、產品用途 三箱氣體式電子芯片冷熱測試沖擊試驗箱 三箱氣體式電子芯片冷熱測試沖擊試驗箱

溫度沖擊試驗箱又叫冷熱沖擊試驗箱，它廣泛用于電工、電子產品整機及零部件進行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗，特別適用于進行電工、電子產品的環(huán)境應力篩選（ESS）試驗。

二、產品規(guī)格（mm）

1.型號WDCJ-50  工作室尺寸D×W×H 320×350×450 外形尺寸D×W×H 1500×1600×2020

2.型號WDCJ-100 工作室尺寸D×W×H400×500×500 外形尺寸D×W×H 1500×1700×2020

3.型號WDCJ-150 工作室尺寸D×W×H500×500×600 外形尺寸D×W×H 1600×1700×2100

4.型號WDCJ-225 工作室尺寸D×W×H750×600×500 外形尺寸D×W×H 2000×1800×2100

5.型號WDCJ-250 工作室尺寸D×W×H700×650×550 外形尺寸D×W×H 2000×2000×2100

6.型號WDCJ-500 工作室尺寸D×W×H800×800×800 外形尺寸D×W×H 2500×2500×2100

7.型號WDCJ-010 工作室尺寸D×W×H1000×1000×1000外形尺寸D×W×H 3500×3500×2200

8.型號WDCJ-015 工作室尺寸D×W×H1500×1000×1000外形尺寸D×W×H 4200×3800×3800

三、技術參數

1.溫度沖擊范圍：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；

2.溫度范圍：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、  -70℃～200℃(D)

3.試驗區(qū)：①溫度波動度±0.5℃（溫度恒定后），②溫度偏差≤3℃；

4.高低溫區(qū)：溫度波動度≤±2.0℃；

5.升溫速率：1.0～3.0℃/min；

6.降溫速率：0.7～1.0℃/min；

7.溫度轉換時間：≤5s（樣品從高溫區(qū)到低溫區(qū)或從低溫區(qū)到高溫區(qū)）；

8.溫度恢復時間：≤5min

9.溫度轉換方式：氣動風門切換，換氣式，做靜態(tài)運行。

10.電源電壓：AC380±10%V  50Hz

四、箱體結構

1．試驗箱結構形式：采用整體組合結構式，采用此方式箱體占地面積小、結構緊湊、外形美觀，制冷機組置于獨立的機組箱體內，以減少制冷機組運行時的震動、噪聲對試驗箱的影響，同時便于機組的安裝和維修，電器控制面板置于試驗箱的右側板上以便于運行操作

2．箱體外壁材料：冷軋鋼板，表面靜電噴塑處理；

3．箱體內壁材料：不銹鋼板（SUS304）；

4．保溫材料：耐高溫防火硬質聚胺酯發(fā)泡或耐高溫防火*細纖維玻璃保溫棉；

5．試驗箱門：配有雙硅膠密封及密封條加熱裝置，設有自限溫加熱帶，防止試驗時凝露和結霜；

6．樣品架：網狀式不銹鋼樣品架；

7．電纜測試孔： 在樣品架的上部與高溫試驗箱體頂部設置有滑動式電纜穿線管